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  薄膜應(yīng)力測量儀

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鉑悅儀器（上海）有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：113條

所在地區(qū)：上海上海

聯(lián)系人：史書華（市場部）

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連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測量設(shè)備

詳細(xì)摘要：產(chǎn)品描述：連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測量設(shè)備設(shè)計(jì), 片電阻不受針尖距離影響多種型號以供選擇
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-27 在線留言
薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測儀

詳細(xì)摘要：產(chǎn)品描述：光學(xué)設(shè)計(jì)減少圖形襯底對激光的干涉。
產(chǎn)品型號：薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測儀所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-27 在線留言
全自動(dòng)紫外線芯片應(yīng)力測量儀

詳細(xì)摘要：產(chǎn)品描述：全自動(dòng)紫外線芯片應(yīng)力測量儀一臺全自動(dòng)紫外線——可見光RAMan儀器，主要用與測量芯片應(yīng)力。
產(chǎn)品型號：FSM360所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-27 在線留言
紅外干涉測量設(shè)備

詳細(xì)摘要：產(chǎn)品描述：紅外干涉測量技術(shù), 非接觸式測量
產(chǎn)品型號：FSM 413所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-27 在線留言
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備

詳細(xì)摘要：產(chǎn)品描述：FSM128系列設(shè)備，裝備有光學(xué)掃描系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：FSM 128所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-27 在線留言
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備

詳細(xì)摘要：產(chǎn)品描述：FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評估薄膜的熱力學(xué)性能和穩(wěn)定性特性
產(chǎn)品型號：FSM 500TC所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-27 在線留言
Line Card

詳細(xì)摘要：產(chǎn)品描述：
產(chǎn)品型號：Line Card所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-27 在線留言